Scanning Electron Microscope กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
Scanning Electron Microscope, กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด เรียกย่อๆว่า SEM
เป็นกล้องจุลทรรศน์ที่ใช้ศึกษาพื้นผิวของตัวอย่าง โดยเฉพาะศึกษาลักษณะสัณฐานวิทยาเช่น ลักษณะรูปร่าง
ลวดลายเป็นผิวตัวอย่างตลอดจนขนาดของตัวอย่างโดยล าอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ และสามารถศึกษาทั้ง
ตัวอย่างทางชีวภาพและวัสดุศาสตร์อีกด้วย ได้ภาพมีลักษณะเป็นภาพ 3 มิติ
บริษัท เบคไทย กรุงเทพอุปกรณ์เคมีภัณฑ์ จำกัด เป็นตัวแทนจำหน่ายกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ยี่ห้อ JEOL หากท่านสนใจสามารถขอใบเสนอราคาหรือติดต่อเราได้ทุกช่องทาง ทั้ง Website และ Line Official
JEOL : JCM-7000 NeoScope™ Benchtop Scanning Electron Microscope
Scanning Electron Microscope JEOL JSM-IT210
The JSM-210 is the most compact stationary scanning electron microscope of JEOL. The newly developed stage is motor-driven for all five axes of movement, making it safer and faster to use. In addition, the newly equipped "Simple SEM" automatically acquires observation and analysis by simply selecting the field of view. The JSM-IT210 is a new generation SEM that is compact and can be operated unattended.
Scanning Electron Microscope JEOL JSM-IT710HR
